用户在使用半导体芯片高低温测试装置的时候，需要经常对半导体芯片高低温测试装置进行保养工作，使得半导体芯片高低温测试装置达到更好的运行效果。

保持环境干净：

打扫半导体芯片高低温测试装置表面及内腔灰尘，保持机器干净、卫生。检查电流表电流跟正常时是否一样，如有异样，通知维修工检修。

半导体芯片高低温测试装置突然停电，要把加热开关关闭，防止来电时自动启动。检查风机运转是否正常，有无异常声音，如有立即关闭机器并通知维修工检修。

机组选购要领：

选购一台半导体芯片高低温测试装置就像为自己买衣服一样，要适合自己，但还要考虑到跟多的因素，因为选购半导体芯片高低温测试装置不仅仅要要谈谈如何选购适合自己公司的半导体芯片高低温测试装置适合自己，还要考虑到自己公司的环境、工作需求和使用温度等因素。

每个物品或设备对温度都有一定的要求，但是有的要求非常严格的。而半导体芯片高低温测试装置就是对温度有一定要求的，根据工艺要求，计算好实际要求的温差，可以根据产品的工艺要求选择。温差的大小直接影响产品的质量。

不同的物品需要不同的空间进行摆放，而物品应该放在方便使用的地方。物品在搬运时应该考虑是否适合搬运，并且摆放的位置是否适合方便使用和下次的搬运。

总结

半导体芯片高低温测试装置在使用过程中建议不要让不懂操作的人员进行操作，避免设备损坏。

高低温试验箱参数和内箱尺寸

一、高低温试验箱产品规格
型号:HY-80T 内型尺寸:D×W×H 400×500×400
型号:HY-225T 内型尺寸:D×W×H 500×600×750
型号:HY-408T 内型尺寸:D×W×H 600×850×800
型号:HY-010T 内型尺寸:D×W×H 1000×1000×1000

     二、高低温试验箱技术指标：
1、温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、温度均匀度：≤±2℃ (空载时)
3、温度波动度：±0.5℃ (空载时)
4、温度偏差:≤±2℃
5、降温速率：0.7～1.2℃/min
6、升温速度：1.0～3.0℃/min
7、时间设定范围：0～999 小时
8、 噪音：＜65dB